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某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報告

北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測試儀,電路板故障檢測儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測試儀,電路板維修工作站,提供某工廠芯片測試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測試報告.

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測試時間:2012-03-29 測試結(jié)果:失敗

測試元件型號:SPHE8202L-F5-OK2

測試設(shè)備:英國ABI-AT192


Test Summary



Device:SPHE8202
Package:QFP128
Scan Profile:Low V Digital
Overall Result:FAIL
Operator:Administrator
Report Date:29 March 2012



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