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JTAGMaster邊界掃描測(cè)試儀

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JTAGMaster 邊界掃描測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

Joint Test Action Group(JTAG)
IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試端口及邊界掃描的架構(gòu)
一般電路板常見(jiàn)的通訊界面
可支持一般無(wú)法使用接觸測(cè)試的組件包裝(e.g. BGA, QFN)
可同時(shí)測(cè)試多顆組件
安全且快速的電路板測(cè)試方法
它不需要功能測(cè)試程序

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專業(yè)銷售英國(guó)ABI產(chǎn)品:電路板故障檢測(cè)儀,電路板維修工作站;英國(guó)ABI-BM8500電路板維修工作站,英國(guó)ABI-BM8400電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-3400三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀;英國(guó)ABI-2400電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-1100可編程電源,英國(guó)ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷等產(chǎn)品,提供產(chǎn)品簡(jiǎn)介和技術(shù)參數(shù),歡迎來(lái)電咨詢,咨詢電話:010-82573333.

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